糖耐量受损

糖耐量受损

糖耐量受损概述:

糖耐量受损(IGT)是由正常血糖向糖尿病过渡的异常糖代谢状态,主要表现为餐后血糖升高。诊断标准为:空腹血糖<6.1毫摩尔/升,口服葡萄糖耐量试验(OGTT)2小时后血浆血糖值处于7.8~11.1毫摩尔/升之间,称为单-IGT,如空腹血糖6.1~7.0毫摩尔/升,则称为合并有空腹血糖异常。目前认为,几乎所有糖尿病患者都要经历IGT阶段,故又称为糖尿病前期。若病情进展,餐后血糖>11.1毫摩尔/升时,即进入糖尿病阶段。

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